| ISBN/价格: | 978-7-111-29641-6:CNY98.00 |
| 作品语种: | chi eng |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 全面的功能验证/.(美) Bruce Wile, John C. Goss, Wolfgang Roesner著/.沈海华, 乐翔译 |
| 出版发行项: | 北京:,机械工业出版社:,2010 |
| 载体形态项: | 487页:;+图:;+24cm |
| 丛编项: | 国际信息工程先进技术译丛 |
| 提要文摘: | 本书分为5个部分。第1部分的内容是功能验证概述,包括概念背景、验证计划、验证策略和一些基本练习;第2部分和第3部分关注两个最主要的功能验证方法:基于模拟的验证方法和形式验证方法;第4部分把注意力集中在验证周期的后期阶段,包括回归测试和“逃逸”错误分析,以及一些高级的验证技术;第5部分,是一些验证实例研究的集合。 |
| 并列题名: | Comprehensive functional verification the complete industry cycle eng |
| 题名主题: | 集成电路 芯片 设计 |
| 索书号: | TN402/H75 |
| 中图分类: | TN402 |
| 个人名称等同: | 怀尔, 著 |
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| 个人名称等同: | 戈斯, 著 |
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| 个人名称等同: | Roesner, Wolfgang 著 |
| 个人名称次要: | 沈海华 译 |
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| 个人名称次要: | 乐翔 译 |
| 记录来源: | CN CEPC1 20100818 |