书目详细信息
： 程序设计缺陷分析与实践
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-12969-8:CNY36.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 程序设计缺陷分析与实践/.尹浩, 于秀山编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2011 |
| 载体形态项： | 268页:;+图:;+24cm |
| 相关题名附注： | 英文并列题名取自封面 |
| 提要文摘： | 本书共5章2个附录, 分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。重点介绍了C/C++语言程序在编码风格、内存管理、缓冲区使用、指针以及安全等方面存在的典型缺陷, 并结合实例对每种缺陷进行了分析, 同时给出了缺陷修改方法。 |
| 并列题名： | Bug detection eng |
| 题名主题： | 程序设计 |
| 索书号： | TP311.1/Y66 |
| 中图分类： | TP311.1 |
| 个人名称等同： | 尹浩, 编著 |
| 个人名称等同： | 于秀山 编著 |
| 记录来源： | CN 三新书业 20110425 |