ISBN/价格: | 978-7-115-61656-2:CNY129.80 |
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作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 深入理解软件性能/.(美) 理查德· L. 赛茨著/.赵利通译 |
出版发行项: | 北京:,人民邮电出版社:,2024.1 |
载体形态项: | 382页, [12] 页图版:;+图 (部分彩图):;+24cm |
相关题名附注: | 英文题名原文取自封面 |
提要文摘: | 本书不仅介绍了如何测量CPU、内存、磁盘/SSD、网络的性能, 如何观察、记录、跟踪、汇总性能指标, 还讨论了如何设计和创建性能测试工具KUtrace, 以及如何对观察结果进行推理。 |
题名主题: | 软件工程 |
索书号: | TP311.5/S18 |
中图分类: | TP311.5 |
个人名称等同: | 赛茨 著 |
个人名称次要: | 赵利通 译 |
记录来源: | CN 上海新华 20231229 |